<tbody id="llm37"></tbody>

    1. <tbody id="llm37"></tbody>
        1. <th id="llm37"></th><th id="llm37"></th><tbody id="llm37"><pre id="llm37"></pre></tbody>

        2. <dd id="llm37"></dd><em id="llm37"><acronym id="llm37"><input id="llm37"></input></acronym></em>

          <th id="llm37"></th>
          <tbody id="llm37"></tbody>
          <dd id="llm37"></dd>
          <rp id="llm37"><object id="llm37"><input id="llm37"></input></object></rp>
          <li id="llm37"><dfn id="llm37"></dfn></li>

          售前熱線: 400-623-2690

          關注海洋光學:

          使用Nirquest鑒別電路卡組件污染物

          使用Nirquest鑒別電路卡組件污染物

          本文關鍵詞: 環保控制/自動化NIR/SNIR
          摘要

          近紅外分光學被用于一系列應用:從測定農產品的質量到研究宇宙新形成星體的成分。當近紅外與多變量校準技術結合的時候,就成為有力的分析工具。一個單獨的近紅外光譜指紋圖可以提供樣品的詳細信息。在本應用說明中,NIRQuest512型近紅外分光計被用于測定電路卡組件(CCA)污染物的特性,最終, 查明CCA故障的根本原因。

          背景

          必須迅速采取行動處理產品故障以查明根本原因、采取正確的行動使產品繼續發揮作用。故障與一系列潛在故障原因相聯系,其范圍從電路卡組件上的機械故障到微小零件。隨著產品中電路卡組件的流行,以及大量零件在特定的電路卡組件上出故障的情況, 這些故障對試圖迅速查明其產品故障原因和確定處理方法的制造商提出了挑戰。

          鑒別和確定電路卡組件故障的原因需要進行小心仔細和有條理的檢查。這個檢查的復雜性與電路板零件數量成比例。一系列技術-從電路卡每個零件的目視檢查到測試零件的功能性等都得到了應用。

          在本例中, 產品故障可追溯到電路卡組件上一個零件的故障。電路卡組件上的一個變壓器顯示過熱。當故障變壓器從板上取下并用目視檢查的時候,在變壓器底部露出的繞組上有污染物的跡象,電路板與該處與其連接。觀察到不明特性的可疑白色渣滓,這被懷疑是故障原因。模塊化海洋光學近紅外分光學儀器被用于鑒別電路卡組件表面上的化學污染物。

          采用下列裝置在可拋式PMMA試管(CVD-UV-1S)中對樣品進行分析:帶有InGaAs矩陣探測器的NIRQuest256-2.5近紅外光譜儀,提供2500 nm照明的HL-2000-FHSA鎢鹵素燈光源,用于吸光率和透過率測量的CUV-UV(紫外線)1-cm光程比色皿支架和兩個QP600-2-VIS-NIR(可見光-近紅外)600 um 光纖。實驗設置如圖1所示。圖中包括兩個樣品電路卡組件作為參考。

          圖1 NIRQuest配置用于測量電路卡組件上的污染物。

          結果

          對作為基準樣品的鹽酸/乙醇溶液進行吸光度分析。未知白色渣滓的光譜如圖2所示。

          圖2 故障電路卡組件上觀察到的懸浮在鹽酸/乙醇溶液中的白色渣滓的近紅外吸光率光譜-點擊放大

          已知錫和銅樣品的吸收光譜顯示在圖3和圖4中。錫的整個光譜趨勢幾乎完全與圖2所示的未知白色渣滓的光譜相等(除了峰點高度1400 nm 相對于峰點高度1700 nm情況之外),而銅樣品的近紅外光譜卻與未知樣品有很大差別。

          圖3 鹽酸/乙醇中錫的近紅外吸光率光譜-點擊放大

          圖4 鹽酸/乙醇中銅的近紅外吸光率光譜-點擊放大

          有了這三個樣品近紅外光譜的快速對比,該白色渣滓被鑒別為某種亞錫鹽,或是溴化物,氯化物鹽或含有錫的電路卡組件零件過熱期間發現的兩個物質的混合物。在電路板上觀察到的渣滓是加熱焊料的產物,焊料用于固定板上零件(錫是焊料的主要成分)。同樣,渣滓可能是便于焊接工藝的助焊劑的成分。

          對電路板的不適當清洗被確定為電路卡組件故障的根本原因。渣滓通過危及變壓器繞組而引起了電路卡組件故障。掌握了這個來自簡單而快速的近紅外光譜測量的信息, 一個矯正措施被確定下來,電路卡組件故障得以處理。

          結論

          通過本例使用Ocean Optics(海洋光學)模塊近紅外光譜學儀器對在電路卡組件表面上觀察到的化學污染物進行了鑒別,說明了近紅外光譜學的方便性和能力。通過在電路卡組件上觀察到的僅僅小容量渣滓和用于比較的一些已知樣品, 未知渣滓被鑒別并被確定零件和電路卡組件故障的原因。

          Ocean Optics(海洋光學)公司2012年版權所有

          ?

          ?

          光纖光譜儀 欧美日产欧美日产国产精品,日本免费一区二区三区中文字幕,香蕉免费一区二区三区
          <tbody id="llm37"></tbody>

          1. <tbody id="llm37"></tbody>
              1. <th id="llm37"></th><th id="llm37"></th><tbody id="llm37"><pre id="llm37"></pre></tbody>

              2. <dd id="llm37"></dd><em id="llm37"><acronym id="llm37"><input id="llm37"></input></acronym></em>

                <th id="llm37"></th>
                <tbody id="llm37"></tbody>
                <dd id="llm37"></dd>
                <rp id="llm37"><object id="llm37"><input id="llm37"></input></object></rp>
                <li id="llm37"><dfn id="llm37"></dfn></li>